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Transmission Electron Microscopy. A Textbook for Materials Science. Bd. I - IV - David B. Williams, C. Barry Carter
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David B. Williams, C. Barry Carter:

Transmission Electron Microscopy. A Textbook for Materials Science. Bd. I - IV - Livres de poche

ISBN: 030645324X

[SR: 477277], Taschenbuch, [EAN: 9780306453243], Springer, Springer, Book, [PU: Springer], Springer, 403432, Schule & Lernen, 405500, Allgemeinbildung, 14025941, Berufs- & Fachschulbücher… Plus…

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Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (4-Vol Set) - Livres de poche

2004, ISBN: 030645324X

[EAN: 9780306453243], Used, very good, [PU: Springer], Books

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Carter C. Barry Williams David B.:
Transmission Electron Microscopy - Livres de poche

2004, ISBN: 030645324X

[EAN: 9780306453243], [PU: Springer], pp. 703, Books

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Données bibliographiques du meilleur livre correspondant

Détails sur le livre
Transmission Electron Microscopy. A Textbook for Materials Science. Bd. I - IV
Auteur:
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ISBN:

030645324X


This groundbreaking text provides the necessary instructions for hands-on application of this versatile materials characterization technique and is supported by over 600 illustrations and diagrams.

Informations détaillées sur le livre - Transmission Electron Microscopy. A Textbook for Materials Science. Bd. I - IV


EAN (ISBN-13): 9780306453243
ISBN (ISBN-10): 030645324X
Livre de poche
Date de parution: 1996
Editeur: Springer
703 Pages
Poids: 1,964 kg
Langue: eng/Englisch

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ISBN/EAN: 030645324X

ISBN - Autres types d'écriture:
0-306-45324-X, 978-0-306-45324-3
Autres types d'écriture et termes associés:
Auteur du livre: david carter, carter william, carter barry, williams and carter
Titre du livre: transmission electron microscopy textbook for materials science

Données de l'éditeur

Auteur: David B. Williams; C. Barry Carter
Titre: Transmission Electron Microscopy - A Textbook for Materials Science
Editeur: Springer; Springer US
729 Pages
Date de parution: 2004-08-31
New York; NY; US
Imprimé / Fabriqué en
Poids: 1,840 kg
Langue: Anglais
85,59 € (DE)
87,99 € (AT)
106,60 CHF (CH)
Not available, publisher indicates OP

BC; Book; Hardcover, Softcover / Physik, Astronomie/Mechanik, Akustik; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; electron microscope; electron microscopy; diffraction; crystal; microscopy; transmission electron microscopy; Helium-Atom-Streuung; materials characterization; B; Physics and Astronomy; Spectroscopy and Microscopy; Surface and Interface Science, Thin Films; Solid State Physics; Characterization and Evaluation of Materials; Biological Microscopy; Wissenschaftliche Ausstattung, Experimente und Techniken; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Werkstoffprüfung; Biologie, Biowissenschaften; Wissenschaftliche Ausstattung, Experimente und Techniken; BB; BC

Basics: 1. The Transmission Electron Microscope. 2. Scattering and Diffraction. 3. Elastic Scattering. 4. Inelastic Scattering and Beam Damage. 5. Electron Sources. 6. Lenses, Apertures, and Resolution 7. How to `See' Electrons. 8. Pumps and Holders. 9. The Instrument 10. Specimen Preparation. Diffraction: 11. Diffraction Patterns. 12. Thinking in Reciprocal Space 13. Diffracted Beams. 14. Bloch Waves. 15. Dispersion Surfaces. 16. Diffraction from Crystals. 17. Diffraction from Small Volumes. 18. Indexing Diffraction Patterns. 19. Kikuchi Diffraction. 20. Obtaining CBED Patterns. 21. Using Covergent-Beam Technologies. Imaging: 22. Imaging in the TEM. 23. Thickness and Bending Effects. 24. Planar Defects. 25. Strain Fields. 26. WeakBeam Dark-Field Microscopy. 27. Phase-Contrast Images. 28. High-Resolution TEM. 29. Image Simulation. 30. Quantifying and Processing HRTEM Images. 31. Other Imaging Techniques. Spectrometry: 32. Xray Spectrometry. 33. The XEDS-TEM Interface. 34. Qualitative Xray Analysis. 35. Quantitative Xray Microanalysis. 36. Spatial Resolution and Minimum Detectability. 37. Electron EnergyLoss Spectrometers. 38. The EnergyLoss Spectrum. 39. Microanalysis with Ionization-Loss Electrons. 40. Everything Else in the Spectrum. Index.
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