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Statistical Methods for SPC and TQM (Chapman & Hall Statistics Textbook Series, Band 26) - BISSELL, D E R E K
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BISSELL, D E R E K:

Statistical Methods for SPC and TQM (Chapman & Hall Statistics Textbook Series, Band 26) - edition reliée, livre de poche

1994, ISBN: 9780412394409

Springer, Gebundene Ausgabe, Auflage: Softcover reprint of the original 1st ed. 1994, 373 Seiten, Publiziert: 1994-01-01T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, Hersteller-Nr.: A-108-636, 1.39 kg… Plus…

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Statistical Methods for Spc and Tqm 26 Chapman Hall Statistics Textbook Series - Livres de poche

2005, ISBN: 9780412394409

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1994, ISBN: 0412394405

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Données bibliographiques du meilleur livre correspondant

Détails sur le livre
Statistical Methods for SPC and TQM (Chapman & Hall Statistics Textbook Series, Band 26)
Auteur:
Titre:
ISBN:

0412394405


Designed for those in statistical process control and total quality management who need a practical guide to the logical basis of data presentation, control charting and capability indexes, this includes topics of cusum methods, and control charts for problem cases.

Informations détaillées sur le livre - Statistical Methods for SPC and TQM (Chapman & Hall Statistics Textbook Series, Band 26)


EAN (ISBN-13): 9780412394409
ISBN (ISBN-10): 0412394405
Version reliée
Livre de poche
Date de parution: 1994
Editeur: Springer
384 Pages
Poids: 0,630 kg
Langue: eng/Englisch

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ISBN/EAN: 0412394405

ISBN - Autres types d'écriture:
0-412-39440-5, 978-0-412-39440-9
Autres types d'écriture et termes associés:
Auteur du livre: bissell, chatfield
Titre du livre: statistical methods, tqm, chapman, spc, statistics

Données de l'éditeur

Auteur: D E R E K BISSELL
Titre: Chapman & Hall Statistics Textbook Series; Statistical Methods for SPC and TQM
Editeur: Springer US
373 Pages
Date de parution: 1994-01-01
Poids: 0,593 kg
Langue: Anglais
85,59 € (DE)
87,99 € (AT)
106,50 CHF (CH)
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BC; PB; Hardcover, Softcover / Mathematik/Wahrscheinlichkeitstheorie, Stochastik, Mathematische Statistik; Wahrscheinlichkeitsrechnung und Statistik; Research; EA

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