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Scanning Probe Microscopy - Sergei V. Kalinin#Alexei Gruverman
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Sergei V. Kalinin#Alexei Gruverman:

Scanning Probe Microscopy - edition reliée, livre de poche

2006, ISBN: 9780387286679

Scanning Probe Microscopy brings up to date a constantly growing knowledge base of electrical and electromechanical characterization at the nanoscale. This comprehensive, t… Plus…

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Scanning Probe Microscopy - nouveau livre

ISBN: 9780387286679

Scanning Probe Microscopy brings up to date a constantly growing knowledge base of electrical and electromechanical characterization at the nanoscale. This comprehensive, two-volume set p… Plus…

Nr. 978-0-387-28667-9. Frais d'envoiWorldwide free shipping, , DE. (EUR 0.00)
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Scanning Probe Microscopy - edition reliée, livre de poche

2007

ISBN: 9780387286679

Erscheinungsdatum: 18.12.2006, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Inhalt: 2 Bücher, Titel: Scanning Probe Microscopy, Titelzusatz: Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscal… Plus…

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Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale - Gruverman, Alexei; Kalinin, Sergei V.
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Gruverman, Alexei; Kalinin, Sergei V.:
Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale - edition reliée, livre de poche

2006, ISBN: 0387286675

2007 Gebundene Ausgabe Mikroskopie, Biophysik, Nanotechnologie, Maschinenbau, Materialwissenschaft, Werkstoffprüfung, AFM; KLTcatalog; Nanotube; PED; Polymer; REM; Stem; STM; carbonnano… Plus…

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Scanning Probe Microscopy - Livres de poche

2007, ISBN: 9780387286679

Scanning Probe Microscopy ab 406.49 € als gebundene Ausgabe: Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale. Auflage 2007. Aus dem Bereich: Bücher, Wissenschaft, Physik, Medi… Plus…

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Données bibliographiques du meilleur livre correspondant

Détails sur le livre
Scanning Probe Microscopy
Auteur:
Titre:
ISBN:

9780387286679


This volume will be devoted to the technical aspects of electrical and electromechanical SPM probes and SPM imaging on the limits of resolution, thus providing technical introduction into the field. This volume will also address the fundamental physical phenomena underpinning the imaging mechanism of SPMs.

Informations détaillées sur le livre - Scanning Probe Microscopy


EAN (ISBN-13): 9780387286679
ISBN (ISBN-10): 0387286675
Version reliée
Livre de poche
Date de parution: 2006
Editeur: Springer New York
980 Pages
Poids: 1,989 kg
Langue: eng/Englisch

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ISBN/EAN: 9780387286679

ISBN - Autres types d'écriture:
0-387-28667-5, 978-0-387-28667-9
Autres types d'écriture et termes associés:
Auteur du livre: probe, kalinin, kälin
Titre du livre: scanning probe microscopy electrical electromechanical phenomena nanoscale, probe aufnahmen

Données de l'éditeur

Auteur: Sergei V. Kalinin
Titre: Scanning Probe Microscopy - Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale
Editeur: Springer; Springer US
980 Pages
Date de parution: 2006-12-18
New York; NY; US
Imprimé / Fabriqué en
Poids: 2,180 kg
Langue: Anglais
329,99 € (DE)

BB; Characterization and Evaluation of Materials; Hardcover, Softcover / Technik/Maschinenbau, Fertigungstechnik; Werkstoffprüfung; Verstehen; AFM; KLTcatalog; Microscopy; Nanotube; PED; Polymer; REM; STEM; STM; carbon nanotubes; electronics; mechanics; polymers; spectroscopy; ultrasound; Biological Microscopy; Nanotechnology; Surfaces and Interfaces, Thin Films; Biological Microscopy; Mechanical Engineering; Solid State Physics; Characterization and Analytical Technique; Nanotechnology; Surfaces, Interfaces and Thin Film; Bioanalysis and Bioimaging; Mechanical Engineering; Condensed Matter Physics; Nanotechnologie; Materialwissenschaft; Biophysik; Maschinenbau; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); EA; BC

brings up to date a constantly growing knowledge base of electrical and electromechanical characterization at the nanoscale. This comprehensive, two-volume set presents practical and theoretical issues of advanced scanning probe microscopy (SPM) techniques ranging from fundamental physical studies to device characterization, failure analysis, and nanofabrication. Volume 1 focuses on the technical aspects of SPM methods ranging from scanning tunneling potentiometry to electrochemical SPM, and addresses the fundamental physical phenomena underlying the SPM imaging mechanism. Volume 2 concentrates on the practical aspects of SPM characterization of a wide range of materials, including semiconductors, ferroelectrics, dielectrics, polymers, carbon nanotubes, and biomolecules, as well as on SPM-based approaches to nanofabrication and nanolithography.

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