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by David B. Williams; C. Barry Carter, PRINT ISBN: 9780306453243 E-TEXT ISBN: 9781475725193 Additional ISBNs: 9780306452475|9780306453243, 0306452472|030645324X, 9780306452475, 0306452472… Plus…

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Détails sur le livre

Informations détaillées sur le livre - Transmission Electron Microscopy


EAN (ISBN-13): 9781475725193
Date de parution: 2013
Editeur: Springer

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ISBN/EAN: 9781475725193

ISBN - Autres types d'écriture:
978-1-4757-2519-3
Autres types d'écriture et termes associés:
Auteur du livre: david williams, williams barry carter, barry william, tad williams
Titre du livre: transmission microscopy electron


Données de l'éditeur

Auteur: David B. Williams; C. Barry Carter
Titre: Transmission Electron Microscopy - A Textbook for Materials Science
Editeur: Springer; Springer US
729 Pages
Date de parution: 2013-03-09
New York; NY; US
Imprimé / Fabriqué en
Langue: Anglais
85,59 € (DE)
88,00 € (AT)
106,50 CHF (CH)
Available
XXIX, 729 p. 1722 illus.

EA; E107; eBook; Nonbooks, PBS / Physik, Astronomie/Mechanik, Akustik; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Verstehen; Helium-Atom-Streuung; crystal; diffraction; electron microscope; electron microscopy; materials characterization; microscopy; transmission electron microscopy; Biological Microscopy; C; Spectroscopy and Microscopy; Surface and Interface Science, Thin Films; Solid State Physics; Characterization and Evaluation of Materials; Biological Microscopy; Spectroscopy; Surface and Interface and Thin Film; Condensed Matter Physics; Characterization and Analytical Technique; Bioanalysis and Bioimaging; Physics and Astronomy; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); Werkstoffprüfung; Biophysik; BB

Basics: 1. The Transmission Electron Microscope. 2. Scattering and Diffraction. 3. Elastic Scattering. 4. Inelastic Scattering and Beam Damage. 5. Electron Sources. 6. Lenses, Apertures, and Resolution 7. How to `See' Electrons. 8. Pumps and Holders. 9. The Instrument 10. Specimen Preparation. Diffraction: 11. Diffraction Patterns. 12. Thinking in Reciprocal Space 13. Diffracted Beams. 14. Bloch Waves. 15. Dispersion Surfaces. 16. Diffraction from Crystals. 17. Diffraction from Small Volumes. 18. Indexing Diffraction Patterns. 19. Kikuchi Diffraction. 20. Obtaining CBED Patterns. 21. Using Covergent-Beam Technologies. Imaging: 22. Imaging in the TEM. 23. Thickness and Bending Effects. 24. Planar Defects. 25. Strain Fields. 26. WeakBeam Dark-Field Microscopy. 27. Phase-Contrast Images. 28. High-Resolution TEM. 29. Image Simulation. 30. Quantifying and Processing HRTEM Images. 31. Other Imaging Techniques. Spectrometry: 32. Xray Spectrometry. 33. The XEDS-TEM Interface. 34. Qualitative Xray Analysis. 35. Quantitative Xray Microanalysis. 36. Spatial Resolution and Minimum Detectability. 37. Electron EnergyLoss Spectrometers. 38. The EnergyLoss Spectrum. 39. Microanalysis with Ionization-Loss Electrons. 40. Everything Else in the Spectrum. Index.

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