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002: Microelectronic Reliability, Vol. 2: Integrity Assessment and Assurance (Artech House Materials Science Library) (English and Italian Edition) - Emiliano Pollino
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Emiliano Pollino:
002: Microelectronic Reliability, Vol. 2: Integrity Assessment and Assurance (Artech House Materials Science Library) (English and Italian Edition) - edition reliée, livre de poche

ISBN: 0890063508

[SR: 7478539], Hardcover, [EAN: 9780890063507], Artech House Publishers, Artech House Publishers, Book, [PU: Artech House Publishers], Artech House Publishers, A companion to v.1 (which covers reliability, test, and diagnostics), this volume explains the main failure mechanisms which may affect silicon devices and shows their effect on reliability characteristics. Due to the importance of VLSI devices, emphasis is given to metalizations and latch-up. Acidi, 13725, Semiconductors, 13707, Electronics, 227544, Electrical & Electronics, 173515, Engineering, 173507, Engineering & Transportation, 1000, Subjects, 283155, Books, 14631, Technology, 14637, History of Technology, 14639, Nanotechnology, 14644, Safety & Health, 271634011, Social Aspects, 75, Science & Math, 1000, Subjects, 283155, Books, 465600, New, Used & Rental Textbooks, 468220, Business & Finance, 468226, Communication & Journalism, 468204, Computer Science, 468224, Education, 468212, Engineering, 468206, Humanities, 468222, Law, 468228, Medicine & Health Sciences, 684283011, Reference, 468216, Science & Mathematics, 468214, Social Sciences, 684300011, Test Prep & Study Guides, 2349030011, Specialty Boutique, 283155, Books

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Microelectronic Reliability: Integrity Assessment and Assurance (Materials Science Library) - Pollino, Emiliano
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Pollino, Emiliano:
Microelectronic Reliability: Integrity Assessment and Assurance (Materials Science Library) - livre d'occasion

1989, ISBN: 0890063508

ID: 12908936352

[EAN: 9780890063507], Gebraucht, sehr guter Zustand, [SC: 3.0], [PU: Artech House Inc,], HALBLEITER / NACHSCHLAGEWERKE, Technology|Electronics|General, Technology|Electronics|Microelectronics, Technology|Electronics|Semiconductors, Technology|General, 556 Seiten Gepflegtes ehemaliges Bibliotheksexemplar mit den üblichen Kennzeichnungen (z.B. Barcode und Inventarisierungsnummer); in der Regel foliiert (Umschlag aus selbstklebender Folie). Zustand unter Berücksichtigung des Alters gut. Tagesaktueller, sicherer und weltweiter Versand. Wir liefern grundsätzlich mit beiliegender Rechnung. 669737.01 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1089, Books

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Microelectronic Reliability: Integrity Assessment and Assurance (Materials Science Library) - Pollino, Emiliano
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Pollino, Emiliano:
Microelectronic Reliability: Integrity Assessment and Assurance (Materials Science Library) - edition reliée, livre de poche

1989, ISBN: 0890063508

ID: 247806

Gebundene Ausgabe 556 Seiten Gebundene Ausgabe Gepflegtes ehemaliges Bibliotheksexemplar mit den üblichen Kennzeichnungen (z.B. Barcode und Inventarisierungsnummer); in der Regel foliiert (Umschlag aus selbstklebender Folie). Zustand unter Berücksichtigung des Alters gut. Tagesaktueller, sicherer und weltweiter Versand. Wir liefern grundsätzlich mit beiliegender Rechnung. 669737.01 Halbleiter / Nachschlagewerke gebraucht; gut, [PU:Artech House Inc,]

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Microelectronic Reliability: Integrity, Assessment and Assurance v. 2 - Emiliano Pollino
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Emiliano Pollino:
Microelectronic Reliability: Integrity, Assessment and Assurance v. 2 - edition reliée, livre de poche

ISBN: 9780890063507

Hardback, [PU: Artech House Publishers], A companion to v.1 (which covers reliability, test, and diagnostics), this volume explains the main failure mechanisms which may affect silicon devices and shows their effect on reliability characteristics. Due to the importance of VLSI devices, emphasis is given to metalizations and latch-up. Acidi, Electronics & Communications Engineering

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Microelectronic Reliability:  Integrity Assessment And Assurance - Emiliano Pollino
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Emiliano Pollino:
Microelectronic Reliability: Integrity Assessment And Assurance - nouveau livre

ISBN: 9780890063507

ID: 978089006350

Microelectronic Reliability: Integrity Assessment And Assurance Emiliano Pollino, Books, Microelectronic Reliability: Integrity Assessment And Assurance Books, Artech House Publishers

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Détails sur le livre
Microelectronic Reliability: Integrity Assessment and Assurance

A companion to v.1 (which covers reliability, test, and diagnostics), this volume explains the main failure mechanisms which may affect silicon devices and shows their effect on reliability characteristics. Due to the importance of VLSI devices, emphasis is given to metalizations and latch-up. Acidi

Informations détaillées sur le livre - Microelectronic Reliability: Integrity Assessment and Assurance


EAN (ISBN-13): 9780890063507
ISBN (ISBN-10): 0890063508
Version reliée
Date de parution: 1989
Editeur: ARTECH HOUSE INC
556 Pages
Poids: 1,089 kg
Langue: eng/Englisch

Livre dans la base de données depuis 28.07.2007 05:00:15
Livre trouvé récemment le 16.12.2017 11:16:53
ISBN/EAN: 0890063508

ISBN - Autres types d'écriture:
0-89006-350-8, 978-0-89006-350-7


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