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Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science - Siegfried Hofmann
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Siegfried Hofmann:

Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science - nouveau livre

ISBN: 3642273815

Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science ab 170.99 € als pdf eBook: A User-Oriented Guide. Aus dem Bereich: eBooks, Sachthemen & Ratgeber, Technik, Medien > Bücher… Plus…

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Andreas Luszczak:

Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science : A User-Oriented Guide - nouveau livre

ISBN: 9783642273810

This book presents the basics of Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science in logical order from sample preparation and instrument setup through data acquisition to… Plus…

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Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science (eBook) - Siegfried Hofmann,
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Siegfried Hofmann,:
Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science (eBook) - nouveau livre

ISBN: 9783642273810

by Siegfried Hofmann, PRINT ISBN: 9783642273803 E-TEXT ISBN: 9783642273810 Additional ISBNs: 3642273807, 3642431739, 9783642273803, 9783642431739 Springer Nature eBook Other pricing struc… Plus…

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Siegfried Hofmann:
Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science - Première édition

2012, ISBN: 9783642273810

A User-Oriented Guide, eBooks, eBook Download (PDF), Auflage, [PU: Springer-Verlag], [ED: 1], Springer-Verlag, 2012

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Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science - nouveau livre

2012, ISBN: 9783642273810

A User-Oriented Guide, eBooks, eBook Download (PDF), 2013, [PU: Springer Berlin], Springer Berlin, 2012

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Détails sur le livre

Informations détaillées sur le livre - Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science


EAN (ISBN-13): 9783642273810
ISBN (ISBN-10): 3642273815
Date de parution: 2012
Editeur: Springer-Verlag
528 Pages
Langue: eng/Englisch

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ISBN/EAN: 9783642273810

ISBN - Autres types d'écriture:
3-642-27381-5, 978-3-642-27381-0
Autres types d'écriture et termes associés:
Auteur du livre: hofman, siegfried hofmann, andreas luszczak, teubner andreas
Titre du livre: auge auge, photo, material, ray spectroscopy


Données de l'éditeur

Auteur: Siegfried Hofmann
Titre: Springer Series in Surface Sciences; Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science - A User-Oriented Guide
Editeur: Springer; Springer Berlin
528 Pages
Date de parution: 2012-10-25
Berlin; Heidelberg; DE
Imprimé / Fabriqué en
Langue: Anglais
287,83 € (DE)
295,90 € (AT)
330,50 CHF (CH)
Available
XX, 528 p.

EA; E107; eBook; Nonbooks, PBS / Physik, Astronomie/Atomphysik, Kernphysik; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); Verstehen; Auger electron spectroscopy; interface analysis; scanning Auger microscopy; surface analysis; thin-film depth profiling; C; Solid State Physics; Spectroscopy and Microscopy; Surfaces and Interfaces, Thin Films; Condensed Matter Physics; Spectroscopy; Surfaces, Interfaces and Thin Film; Chemistry and Materials Science; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Materialwissenschaft; BB

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