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1989, ISBN: 0890063508

[EAN: 9780890063507], Gebraucht, sehr guter Zustand, [SC: 3.5], [PU: Artech House Inc], INGENIEURWISSENSCHAFT & TECHNIK / NATURWISSENSCHAFTEN ELEKTROTECHNIK TECHNOLOGIE, 556 Seiten Gepfle… Plus…

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1989

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Gebundene Ausgabe 556 Seiten Gebundene Ausgabe Gepflegtes ehemaliges Bibliotheksexemplar mit den üblichen Kennzeichnungen (z.B. Barcode und Inventarisierungsnummer); in der Regel foliier… Plus…

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1989, ISBN: 9780890063507

Hardcover book. 556 pages. Published by Artech House Publishers (1989) Media > Book

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1989, ISBN: 9780890063507

Buch, Hardcover, [PU: Artech House Publishers], Artech House Publishers, 1989

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Détails sur le livre
Microelectronic Reliability
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0890063508


A companion to v.1 (which covers reliability, test, and diagnostics), this volume explains the main failure mechanisms which may affect silicon devices and shows their effect on reliability characteristics. Due to the importance of VLSI devices, emphasis is given to metalizations and latch-up. Acidi

Informations détaillées sur le livre - Microelectronic Reliability


EAN (ISBN-13): 9780890063507
ISBN (ISBN-10): 0890063508
Version reliée
Livre de poche
Date de parution: 1989
Editeur: Artech House Publishers
556 Pages
Poids: 1,089 kg
Langue: eng/Englisch

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ISBN/EAN: 0890063508

ISBN - Autres types d'écriture:
0-89006-350-8, 978-0-89006-350-7
Autres types d'écriture et termes associés:
Titre du livre: microelectronic, reliability

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